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TH2638電容測量儀 TH2638系列特別針對生產(chǎn)線測試上增加了對不良接觸的檢查功能，測量時無需額外的時間來執(zhí)行此操作就能夠檢測到被測器件與測試儀器之間可能出現(xiàn)的不良接觸；
更新時間：2018-09-04
TH2638電容測量儀
簡要介紹
■ TH2638系列高速精密電容測量儀是具有更高測試頻率的新型數(shù)字電容測量儀器，其體積小，緊湊便攜，便于上架使用。該儀器測量電容基本精度為±0.07%，損耗精度高達0.0005，測試頻率zui高可達1MHz，4.3寸的LCD屏幕可選中英文操作界面，操作方便快捷。TH2638系列可以為陶瓷電容器生產(chǎn)測試提供高速、可靠的測量。該儀器能夠精確測量從低值到高值的各類電容。在對同一個電容器進行多次測量的結果*性好，即使是很低的電容值也可以很精確地測量出來。該儀器兼容SCPI命令集，帶有機械手接口和掃描器接口，掃描接口可逐個的對各個測試通道到開路/短路/負載誤差校正進行掃描，zui多可以掃描256個通道。在低頻測量時，當被測件阻抗很小時，信號源內(nèi)阻和測試線纜將會引起被測件兩端的電壓低于設定電壓范圍，使用儀器的信號電平補償功能就會調整被測件上的電平到設定值范圍內(nèi)。
TH2638系列特別針對生產(chǎn)線測試上增加了對不良接觸的檢查功能，測量時無需額外的時間來執(zhí)行此操作就能夠檢測到被測器件與測試儀器之間可能出現(xiàn)的不良接觸；儀器具有在實際測試保持同步的信號源功能，只在進行真正測試的時候才把測試信號施加到被測器件上，在放置和取下被測器件的瞬間不會給被測器件施加測試信號，這樣就顯著的降低了在接觸不良的情況下較大測試電流對測試夾具或觸點的蝕損；當前測試頻率為1MHz時，可對測試頻率進行偏移設置（偏移值為±1%，±2%）這一功能在陣列式電容器測試系統(tǒng)中可消除相鄰測量終端受到干擾，還可以降低測量結果的波動。儀器還帶有料箱分類功能，可以按照產(chǎn)品的質量設置9個料箱根據(jù)C-D/Q/R/G的測試結果確定產(chǎn)品合格與不合格，并放入不同等級到料箱內(nèi)。
性能特點
■ *替代AgilentE4981A
■ 4.3寸TFT液晶顯示,中英文可選操作界面
■ zui高1MHz的測試頻率(100Hz，120Hz，1kHz，10kHz，100kHz，1MHz),增加了100Hz,10kHz 和100kHz四點頻率，可對薄膜電容、電解電容、電力電容在該頻率下進行高速測試更方便地進行該頻率下串聯(lián)等效電阻ESR的測試,這點是同惠*的
■ zui高測試速度：2.3ms/次,并有五檔速度選擇
■ 測試電容基本精度±0.07%
■ 損耗因數(shù)：±0.0005
■ V、I 測試信號電平監(jiān)視功能
■ 低阻抗測試，信號電平補償功能
■ 內(nèi)建比較器，11檔分選
■ 內(nèi)部文件存儲和外部U盤文件保存
■ 測量數(shù)據(jù)可直接保存到U盤
■ 截屏保存到U盤
■ 兼容SCPI命令集
■ RS232C、USB CDC、LAN、GPIB接口
■ HANDLER接口、SCANNER接口、機械手接口
■ 接觸檢查功能
■ 同步信號源
■ 1MHz時的測試頻率帶有偏移功能（±1%，±2%）
■ 10點列表掃描，可對頻率、電壓進行掃描
技術參數(shù)
型號 | TH2638 | |
測試信號參數(shù) | Cp-D, Cp-Q, Cp-Rp, Cp-G, Cs-D, Cs-Q, Cs-Rs | |
測試信號 | ||
頻率
| 允許頻率 | 100Hz,120Hz, 1kHz,10kHz,100kHz,1MHz,1MHz±1%,1MHz±2% |
精度 | ±0.02% | |
| 范圍 | 0.1V-1V |
電平 | 分辨率 | 0.01V |
| 精度 | ±5% |
輸出方式 | 連續(xù)或同步 | |
信號源延時 | 范圍 | 0-1s |
分辨率 | 0.1ms | |
信號電平補償 | 100/120Hz | 220μF, 470μF, 1mF量程 |
1kHz | 22μF, 47μF, 100μF量程 | |
|
| SLC OFF ( ≥ 220μF 量程) 1.5 Ω |
| 100 Hz | SLC ON ( ≥ 220μF 量程) 0.3 Ω |
| 120Hz | 2.2μF - 100μF 量程 0.3 Ω |
|
| 10 nF - 1μF 量程 10 Ω |
輸出阻抗 |
| SLC OFF ( ≥ 22μF 量程) 1.5 Ω |
| 1kHz | SLC ON ( ≥ 22μF 量程) 0.3 Ω |
|
| 220 nF - 10μF 量程 0.3 Ω |
|
| 100 pF - 100 nF 量程 10 Ω |
| 10kHz/100kHz | 10 Ω |
| 1MHz | 10 Ω |
測試速度 | 五檔測試速度選擇：1，2，4，6，8 | |
| 100/120Hz | 11ms |
zui快測量速度 | 1kHz | 3ms |
| 10k/100kHz | 2.3ms |
| 1MHz | 2.3ms |
測試量程方式 | 自動、保持 | |
| 100Hz/120Hz | 10 nF, 22 nF, 47 nF, 100 nF, 220 nF, 470 nF, 1μF, 2.2μF, 4.7μF, 10μF, 22μF, |
| 47μF, 100μF, 220μF, 470μF, 1 mF | |
| 1k Hz | 100 pF, 220 pF, 470 pF, 1 Nf, 2.2 nF, 4.7 nF, 10 nF, 22 nF，47 nF, 100 nF, |
| 220 nF ,470 nF，1μF, 2.2μF, 4.7μF, 10μF，22μF, 47μF, 100μF | |
測試信號頻率量程 | 10k Hz | 100 pF , 220 pF, 470 pF, 1 nF，2.2 nF, 4.7 nF, 10 nF, 22 nF，47 nF, 100 nF, |
| 220 nF , 470 nF，1μF, 2.2μF , 4.7μF, 10μF | |
| 100k Hz | 10 pF, 22 pF, 47 pF, 100 pF, 220 pF , 470 pF, 1 nF，2.2 nF, 4.7 nF, 10 nF, |
| 22 nF，47 nF, 100 nF | |
| 1MHz | 1 pF, 2.2 pF, 4.7 pF, 10 pF, 22 pF, |
平均次數(shù) | 1 - 256 | |
觸發(fā)方式 | 內(nèi)部，手動，外部，總線（除GPIB） | |
觸發(fā)延時時間 | 范圍 | 0 - 1s |
分辨率 | 0.1ms | |
測量顯示范圍 | ||
| Cs , Cp | ±1.000000 aF to 999.9999 EF |
| D | ±0.000001 to 9.999999 |
參數(shù)( a : 1x10-18,E:1x1018 ) | Q | ±0.01 to 99999.99 |
| Rs, Rp | ±1.000000 aΩ to 999.9999 EΩ |
| G | ±1.000000 aS to 999.9999 ES |
| Δ% | ±0.0001 % to 999.9999 % |
基本測量準確度 | C:0.07%, D:0.0005 | |
顯示方式 | 浮動/固定小數(shù)點顯示、ΔABS、Δ% | |
列表掃描 | 10點列表掃描，可對頻率、電壓進行掃描 | |
比較器功能 | 11檔 BIN1-BIN9、OUT_OF_BIN、AUX_BIN | |
接口 | RS232C, LAN, USB CDC, HANDLER | |
內(nèi)部存儲 | 40個儀器設定文件 | |
| GIF圖像 | |
外部USB存儲 | 40個儀器設定文件 測試數(shù)據(jù)USB存儲器直接存儲 截屏文件直接保存USB存儲器 | |
一般技術指標 | ||
溫度、濕度、海拔（操作環(huán)境） | 0 ℃ - 45 ℃，15% - 85% RH (≤40℃，無冷凝)，0 - 2000m | |
| 電壓 | 90VAC - 264VAC |
供電電源 | 頻率 | 47Hz - 63Hz |
| 功耗 | zui大150VA |
溫度、濕度、海拔（存儲環(huán)境） | -20 ℃ - 70 ℃，0 - 90% RH (≤65℃，無冷凝)，0 - 4572m | |
注：1MHz時包含 1MHz±1%，1MHz±2% a: 1 x 10 -18, E: 1 x 10 的18次方
